相控阵超声横向扫查用于飞机蒙皮检测

​背景相控阵超声横向扫查的优势在于能将声束进行横向聚焦。这样可以很清晰的区分结构回波（例如紧固件孔）和缺陷回波。在相控阵的大部分应用中，声束偏转平面与楔块的折射平面重合。但是有些检测需要声束在于楔块的折射平面垂直的方向进行扫查，例如检测飞机搭接结构中的下层蒙皮，这种结构的典型缺陷包括紧固件孔造成的裂纹和机身上的划痕。当缺陷的走向与束不垂直时，横向相控阵超声扫查技术优势明显。 设备和探头设备• OmniScan MX 或 OmniScan MX2 16:128 或32:128 使用多组功能。a. 下面的结果是使用0°线性扫查和-15°到15°扇扫结合得到的。孔径为探头中心的16个晶元。 横向线扫（红线表示）; 横向扇扫 (蓝线表示) 搭接缺陷示意图 (1 mm厚蒙皮) 检测结果的OmniScan截图 横向线扫（左图）; 横向扇扫 (右图) b. 下面是使用-15°、0°、15°线性扫查得到的结果。 从图中看出当缺陷走向不垂直时，扫查角对检测结果及其重要。 3个角度的横向扫查 (红线表示) 检测结果的OmniScan截图 -15°（左图）、0°（中图）、15°(右图) 结论相控阵横向扫查对于紧固件引起的缺陷有较高的检测灵敏度。实验表明1mm长的裂纹可以很好的检出，而且对缺陷走向不敏感。