本人刚开始解除UT 问几个非常简单的问题 比如检测30MM的试板 在CSK-III型石块上要从10MM深的1X6的孔调到屏幕的百分之80波高 然后依次20 30 40 50 60都调到百分之80波高 然后用60深的1X6孔的DB值减去12DB开始扫差 只要发现高于百分之80波高的 就是缺陷 对吗？？？ 如果对 那么如果我在20深的位置发现高于百分之80的波 那么需要把DB调到20深的孔的DB值去确认是否高于百分之80波高么？？？ 再一个就是进行横波扫差的时候 提高6DB的灵敏度扫差是-6DB还是+6DB？？？？ （注明一下 机器是CTS-22模拟机） 非常感谢！！！！
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