CR数字化成像标准及应用研讨会

本帖最后由 wsjcsbw 于 2016-8-18 16:18 编辑 《数字化成像标准及应用研讨会》新闻报道 2016年8月7日，由重庆市无损检测学会、无损检测设备网和德华材料检测有限公司联合召开的“数字化成像标准及应用研讨会”在重庆长度假日酒店召开。 此次会议是借由国家新颁布《计算机辅助成像射线检测》标准实施之际，旨在增加对新标准的理解和认识，促进该项新技术在工业领域生产检测中的推广及使用。 重庆无损检测学会、无损检测设备网、德华材料检测有限公司、各检测单位的工作人员及德国DUEER公司UIL教授等三十余人出席了此次会议。 研讨会于上午九点半正式开始。刘丰林副秘书长作为大会主持人致开幕辞，介绍了总体议程，并对德国DUERR公司Uil教授的到来表示欢迎。 随后重庆无损检测学会代表鞠清龙副理事长上台讲话，对射线CR数字成像技术发表了自己的看法，并对中国先进的无损检测技术进行了简单的介绍。 德华材料检测有限公司代表也上台介绍了公司参会人员及该公司具体情况。 在会上Uil教授在会议上对欧洲新颁布的17636-2标准中的重点和难点进行了讲解。分析了CR数字成像技术的特点及它在工业中的应用，并将CR技术与传统的胶片照相成像检测进行了对比。Uil教授在会中还以动画的形式介绍了DUEER公司的情况及该公司CR数字成像设备的特点，并向参会人员演示了该产品的使用过程。参会专家对产品的使用和性能提出了疑问并进行了讨论。 在会议的最后，Uil教授接受了无损检测设备网的专访，并对提问进行了耐心的解答，会议圆满结束。 该报道来自无损检测设备网 作者：曾清